Padrões eletrostaticos e nanomecânicos de superfícies isolantes = um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscoscopia de força pulsada digital (DPFM)

Orientador: Fernando Galembeck === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica === Made available in DSpace on 2018-08-16T12:34:45Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Gouveia_RubiaFigueredo_D.pdf: 6255414 bytes, checksum: b9783ee801d3d18f57579c596a700bab (MD5) Previous issu...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Gouveia, Rubia Figueredo
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2010
Subjects:
Online Access:GOUVEIA, Rubia Figueredo. Padrões eletrostaticos e nanomecânicos de superfícies isolantes = um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscoscopia de força pulsada digital (DPFM). 2010. 98 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/250319>. Acesso em: 16 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/250319