Padrões eletrostaticos e nanomecânicos de superfícies isolantes = um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscoscopia de força pulsada digital (DPFM)
Orientador: Fernando Galembeck === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica === Made available in DSpace on 2018-08-16T12:34:45Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Gouveia_RubiaFigueredo_D.pdf: 6255414 bytes, checksum: b9783ee801d3d18f57579c596a700bab (MD5) Previous issu...
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Format: | Others |
Language: | Portuguese |
Published: |
[s.n.]
2010
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Subjects: | |
Online Access: | GOUVEIA, Rubia Figueredo. Padrões eletrostaticos e nanomecânicos de superfícies isolantes = um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscoscopia de força pulsada digital (DPFM). 2010. 98 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/250319>. Acesso em: 16 ago. 2018. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/250319 |
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GOUVEIA, Rubia Figueredo. Padrões eletrostaticos e nanomecânicos de superfícies isolantes = um estudo por microscopia de força Kelvin (KFM) e microscoscopia de força pulsada digital (DPFM). 2010. 98 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/250319>. Acesso em: 16 ago. 2018.http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/250319