Caracterização da profundidade de defeitos em materiais compositos utilizando shearografia com carregamento vibracional

Caracterização da profundidade de defeitos em materiais compositos utilizando shearografia com carregamento vibracional

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial, Florianópolis, 2009 === Made available in DSpace on 2012-10-24T18:05:06Z (GMT). No. of bitstreams: 1 270039.pdf: 8020501 bytes, checksum: fbcdb89faf6c...

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Bibliographic Details
Main Author: Schöntag, Juliana Marques
Other Authors: Universidade Federal de Santa Catarina
Format: Others
Language:Portuguese
Published: 2012
Subjects:
Metrologia científica
Materiais compostos
Shearografia
Online Access:http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/93200

Internet

http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/93200

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