Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração
Made available in DSpace on 2014-10-09T12:42:15Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === Made available in DSpace on 2014-10-09T14:05:30Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line...
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Format: | Others |
Published: |
2013
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Subjects: | |
Online Access: | http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10585 |
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