Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração

Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração

Show other versions (1)

Made available in DSpace on 2014-10-09T12:42:15Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === Made available in DSpace on 2014-10-09T14:05:30Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: ICHIKAWA, RODRIGO U.
Other Authors: Luis Gallego Martinez
Format: Others
Published: 2013
Subjects:
crystallography
fourier analysis
chemical analysis
x-ray diffraction
microstructure
zircaloy
yttrium oxides
zinc oxides
computer codes
Online Access:http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10585

Internet

http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10585

Similar Items