Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração

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Full description

Bibliographic Details
Main Author:	ICHIKAWA, RODRIGO U.
Other Authors:	Luis Gallego Martinez
Format:	Others
Published:	2013
Subjects:	crystallography fourier analysis chemical analysis x-ray diffraction microstructure zircaloy yttrium oxides zinc oxides computer codes
Online Access:	http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10585

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