Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração

• Main Author: ICHIKAWA, RODRIGO U.
• Other Authors: Luis Gallego Martinez
• Format: Others
• Published: 2013
• Subjects: crystallography; fourier analysis; chemical analysis; x-ray diffraction; microstructure; zircaloy; yttrium oxides; zinc oxides; computer codes
• Online Access: http://repositorio.ipen.br:8080/xmlui/handle/123456789/10585

Made available in DSpace on 2014-10-09T12:42:15Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === Made available in DSpace on 2014-10-09T14:05:30Z (GMT). No. of bitstreams: 0 === O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um programa computacional para facilitar o tratamento dos picos presentes em um difratograma e realizar a deconvolução de perfis através do Método de Stokes para se corrigir a contribuição instrumental nos perfis de difração. Os métodos de XLPA de espaço real estudados e aplicados neste trabalho foram os métodos de Scherrer, Williamson-Hall e Single-Line (ou Linha Única) e o método de Warren-Averbach de espaço de Fourier. Além disso, utilizando-se um modelamento matemático foi possível calcular a distribuição de tamanhos de cristalitos para um caso isotrópico, onde considerou-se a distribuição log-normal e cristalitos com forma esférica. Foi possível demonstrar que a teoria proposta pode ser considerada como uma boa aproximação avaliando-se uma razão de dispersão. As metodologias descritas acima foram aplicadas em dois materiais distintos: na liga metálica Zircaloy-4 e em ZnO. === Dissertação (Mestrado) === IPEN/D === Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP