Caracterização das superfícies e regiões interfaciais de filmes nanométricos de TiN/Ti/Aço AISI M2 nitretado a plasma

Este trabalho apresenta uma análise das superfícies e das regiões interfaciais da estrutura nanométrica de TiN sobre o substrato de aço AISI M2 nitretado a plasma com uso de camada intermediária de Ti. O objetivo da investigação foi identificar os principais componentes químicos formados nesta estru...

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Bibliographic Details
Main Author: Kieckow, Flavio
Other Authors: Reguly, Afonso
Format: Others
Language:Portuguese
Published: 2009
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/15026