Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização

Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para uma tecnologia CMOS de 0,5m com configurações complementares, a fim de comprov...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bender, Isis Duarte
Other Authors: Balen, Tiago Roberto
Format: Others
Language:Portuguese
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/131040