Análise dos efeitos de dose total ionizante em circuitos analógicos CMOS

Análise dos efeitos de dose total ionizante em circuitos analógicos CMOS

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Este trabalho apresenta um estudo sobre o comportamento de circuitos analógicos CMOS quando sujeitos aos efeitos de dose total ionizante. Os efeitos de dose total são resultado da interação entre a radiação ionizante e as camadas dielétricas dos dispositivos semicondutores, provocando o acúmulo de c...

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Bibliographic Details
Main Author: Rossetto, Alan Carlos Junior
Other Authors: Wirth, Gilson Inacio
Format: Others
Language:Portuguese
Published: 2015
Subjects:
Radiação ionizante
Cmos
Circuitos analógicos
Analog circuits
Radiation
Total ionizing dose
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/115557

Internet

http://hdl.handle.net/10183/115557

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