Autocorrelation analysis in frequency domain as a tool for MOSFET low frequency noise characterization
O ruído de baixa frequência é um limitador de desempenho em circuitos analógicos, digitais e de radiofrequência, introduzindo ruído de fase em osciladores e reduzindo a estabilidade de células SRAM, por exemplo. Transistores de efeito de campo de metalóxido- semicondutor (MOSFETs) são conhecidos pel...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2018
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/174487 |