Novos métodos analíticos em defeitos topológicos.

Novos métodos analíticos em defeitos topológicos.

Submitted by Emanuel Varela Cardoso (emanuel.varela@ufcg.edu.br) on 2018-11-07T16:46:32Z No. of bitstreams: 1 DOUGLAS ALVES FERREIRA – DISSERTAÇÃO (PPGFísica) 2016.pdf: 1222935 bytes, checksum: 98d8066b80898d8ad6f6e489bca48723 (MD5) === Made available in DSpace on 2018-11-07T16:46:32Z (GMT). No. of...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: FERREIRA, Douglas Alves.
Other Authors: SANTOS, João Rafael Lúcio dos.
Language:Portuguese
Published: Universidade Federal de Campina Grande 2016
Subjects:
Física
Defeitos topológicos
Campos escalares
Simetria de Lorentz
Método BPS
Topological defects
Scalar Fields
Symmetry of Lorentz
BPS method
Online Access:http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/2144

Internet

http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/2144

Similar Items