Caracterização de camadas de TiO2:Al2O3 por refletividade de raios-x
Made available in DSpace on 2015-03-26T13:35:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1 texto completo.pdf: 4132930 bytes, checksum: 1169203ed33a5e53252821abccd6cf81 (MD5) Previous issue date: 2013-02-19 === Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior === In this work, ultra-thin layers of ox...
Main Author: | |
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Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | Portuguese |
Published: |
Universidade Federal de Viçosa
2015
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Subjects: | |
Online Access: | http://locus.ufv.br/handle/123456789/4261 |