Caracterização de camadas de TiO2:Al2O3 por refletividade de raios-x

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Made available in DSpace on 2015-03-26T13:35:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1 texto completo.pdf: 4132930 bytes, checksum: 1169203ed33a5e53252821abccd6cf81 (MD5) Previous issue date: 2013-02-19 === Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior === In this work, ultra-thin layers of ox...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bazoni, Raniella Falchetto
Other Authors: Teixeira, álvaro Vianna Novaes de Carvalho
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Universidade Federal de Viçosa 2015
Subjects:
ALD
Refletividade
Ajustes
Softwares
Reflectivity
Fits
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Online Access:http://locus.ufv.br/handle/123456789/4261

Internet

http://locus.ufv.br/handle/123456789/4261

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