DEVELOPMENT OF A METROLOGICAL STANDARD LASER FREQUENCY REFERENCE AT 532 NM
CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICO === FUNDAÇÃO DE APOIO À PESQUISA DO ESTADO DO RIO DE JANEIRO === Este trabalho faz parte do projeto do desenvolvimento do primeiro padrão de referência metrológica de frequência em torno de 532 nm no Brasil, para a realização prática da d...
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| Language: | Portuguese |
| Published: |
PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
2009
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| Online Access: | http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=15143@1 http://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/Busca_etds.php?strSecao=resultado&nrSeq=15143@2 |