Transmission electron microscopy study of polarity control in III-N films grown on sapphire substrates

Die Polarität ist ein kritisches Thema für das III-Nitrid-Materialsystem, das sich auf die Qualität und Eigenschaften von epitaktischen Schichten, sowie auf die Leistungfähigkeit von auf Nitrid-Materialien basierenden Bauelementen auswirkt. Das Verständnis der elementaren Mechanismen, die für die Au...

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Bibliographic Details
Main Author: Stolyarchuk, Natalia
Other Authors: Masselink, Ted
Format: Doctoral Thesis
Language:English
Published: Humboldt-Universität zu Berlin 2018
Subjects:
Online Access:http://edoc.hu-berlin.de/18452/19512
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/19512-5
http://dx.doi.org/10.18452/18791

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