Transmission electron microscopy study of polarity control in III-N films grown on sapphire substrates
Die Polarität ist ein kritisches Thema für das III-Nitrid-Materialsystem, das sich auf die Qualität und Eigenschaften von epitaktischen Schichten, sowie auf die Leistungfähigkeit von auf Nitrid-Materialien basierenden Bauelementen auswirkt. Das Verständnis der elementaren Mechanismen, die für die Au...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Doctoral Thesis |
| Language: | English |
| Published: |
Humboldt-Universität zu Berlin
2018
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://edoc.hu-berlin.de/18452/19512 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/19512-5 http://dx.doi.org/10.18452/18791 |