Strain-related phenomena in (In,Ga)N/GaN nanowires and rods investigated by nanofocus x-ray diffraction and the finite element method

Strain-related phenomena in (In,Ga)N/GaN nanowires and rods investigated by nanofocus x-ray diffraction and the finite element method

In dieser Arbeit wird das lokal aufgelöste Deformationsfeld einzelner (In,Ga)N/GaN Drähte mit Hilfe nanofokussierter Röntgenbeugung und der Methode der Finiten Elemente untersucht. Hiermit soll ein Beitrag zum grundlegenden Verständis der optischen Eigenschaften geleistet werden, die durch das D...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Henkel, Thilo Johannes
Other Authors: Riechert, Henning
Format: Doctoral Thesis
Language:English
Published: Humboldt-Universität zu Berlin 2018
Subjects:
(In,Ga)N/GaN Nanodrähte
Beugung mit fokussierter Röntgenstrahlung
Finite Elemente Methode
Streusimulation
(In,Ga)N/GaN nanowires
nanofocus x-ray diffraction
finite element method
kinematic scattering simulation
530 Physik
UP 3150
ddc:530
Online Access:http://edoc.hu-berlin.de/18452/19418
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/19418-5
http://dx.doi.org/10.18452/18707

Internet

http://edoc.hu-berlin.de/18452/19418
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/19418-5
http://dx.doi.org/10.18452/18707

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