Winkelaufgelöste XPS: Optimierung der mathematischen Modellierung und deren experimentelle Überprüfung

Winkelaufgelöste XPS: Optimierung der mathematischen Modellierung und deren experimentelle Überprüfung

Heutzutage ist die Entwicklung neuer Technologien stark auf die Miniaturisierung und die Herstellung von Materialien im Nanometer-Bereich und deren Charakterisierung ausgerichtet. Besonders interessant sind Informationen über hergestellte "sandwich" Strukturen betreffs Art...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kozlowska, Magdalena
Other Authors: Technische Universität Dresden, Maschinenwesen
Format: Doctoral Thesis
Language:deu
Published: Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden 2005
Subjects:
Aluminiumoxid-Barriere
Electron Cyclotron Resonance (ECR) Oxidation
Fe-Einkristall
Modellrechnung
Schichtstrukturen: Co/Aluminiumoxid/Al
Winkelaufgelöste Röntgenphotoemissionsspektroskopie (ARXPS)
Angle Resolved Photoelectron Spectroscopy (ARXPS)
Electron Cyclotron Resonance (ECR) oxidation
Fe crystal
aluminium oxide barrier
layer structures: Co/aluminium oxide/Al
model calculation
ddc:620
rvk:UP 9330
Dünne Schicht
Mathematisches Modell
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Schichtgitter
Online Access:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:14-1126554580144-69045
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:14-1126554580144-69045
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/1360/1126554580144-6904.pdf

Internet

http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:14-1126554580144-69045
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:14-1126554580144-69045
http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/1360/1126554580144-6904.pdf

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