Supraleitung in Gallium-implantiertem Silizium
Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit der elektrischen Charakterisierung 10 nm dünner Schichten bestehend aus amorphen Ga-Nanoclustern eingebettet in Ga-dotiertes polykristallines Si. Die Herstellung der Schichten geschieht via Ionen-Implantation in Si-Wafer samt anschließender thermischer Aus...
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Format: | Doctoral Thesis |
Language: | deu |
Published: |
Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden
2016
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Subjects: | |
Online Access: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-207365 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-207365 http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/20736/Dissertation_Richard_Skrotzki_PDFA.pdf |