在型Ⅱ截略抽樣計劃下選擇較可靠韋伯分配之研究
在產品研究開發階段，決者經常面臨如何挑選比控制（標準）母體更具可靠度的設計 母體。本篇論文研究的範圍是在型ＩＩ截略抽樣計劃且特定時間下，挑選較具可靠度 的韋伯母體。 假設π□、π□，．．．．，πk 是Ｋ＋１個獨立的韋伯母體，第ｉ個韋伯母體πi 的可靠度函數如下：Ｒ（ｔ；αｉ；βｉ）＝ｅｘｐ（－（ｔ╱αｉ）βi ）假如Ｒ （Ｓ* ；αｉ；βｉ）＞Ｒ（Ｓ* ；α□；βυ）則稱母體πｉ比π□更具可靠度。 在型ＩＩ截略抽樣計劃下，我們主要決定ヾ每一母體適當的樣本和截略數（ｎｉ；γ ｉ）ゝ局部最適法則以便由π□到πk 中挑選比π□更具可靠度的母體。 當形狀參數β已知時，由Huang et al （一九八...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Language: | 中文 |
| Published: |
國立政治大學
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://thesis.lib.nccu.edu.tw/cgi-bin/cdrfb3/gsweb.cgi?o=dstdcdr&i=sid=%22B2002005737%22. |