Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l'analyse de défaillance des composants VLSI

Les technologies VLSI (" Very large Scale Integration ") font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits " hard " apparaissant durant les phase...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bascoul, G.
Language:fra
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2013
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00998831
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/99/88/31/PDF/BASCOUL_GUILLAUME_2013.pdf