Estimation à haut-niveau des dégradations temporelles dans les processeurs : méthodologie et mise en oeuvre logicielle

Estimation à haut-niveau des dégradations temporelles dans les processeurs : méthodologie et mise en oeuvre logicielle

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Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bertolini, Clément
Language:FRE
Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2013
Subjects:
[PHYS:COND:CM_GEN] Physics/Condensed Matter/Other
[PHYS:COND:CM_GEN] Physique/Matière Condensée/Autre
Vieillissement
Injection de porteurs chauds (HCI)
Negative bias temperature instability (NBTI)
Marges temporelles
MPSoC
Simulation fonctionnelle
Conception
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00952867
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/95/28/67/PDF/BERTOLINI_CLEMENT_2013.pdf

Internet

http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00952867
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/95/28/67/PDF/BERTOLINI_CLEMENT_2013.pdf

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