Etude de la robustesse de transistors JFET à base de SiC vis-à-vis de stress électriques
Les travaux de cette thèse ont été menés dans le cadre d'une collaboration entre les laboratoires SATIE et LTN IFSTTAR. Ils portent principalement, sur l'étude de la robustesse des composants JFET SiC de puissance pour des applications de découpage à haute fréquence, forte puissance surfac...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
École normale supérieure de Cachan - ENS Cachan
2012
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00744849 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/74/48/49/PDF/Moumen2012.pdf |