Méthode adaptative de contrôle logique et de test de circuits AMS/RF
Les technologies microélectroniques ainsi que les outils de CAO actuels permettent la conception de plus en plus rapide de circuits et systèmes intégrés très complexes. L'un des plus importants problèmes rencontrés est de gérer la complexité en terme de nombre de transistors présents dans le sy...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université de Grenoble
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00656920 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/65/69/20/PDF/alc_0355.pdf |