Evaluation des futures technologies CMOS (<50nm) au niveau circuit

L'objectif de cette étude est de fournir des éléments d'évaluation des futures technologies CMOS au niveau circuit. Dans ce but, des kits de conception prédictifs sont élaborés. Ces kits reposent sur la modélisation prédictive des futurs dispositifs et des interconnexions, ainsi que sur le...

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Bibliographic Details
Main Author: Sellier, Manuel
Language:FRE
Published: Université de Provence - Aix-Marseille I 2008
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00631246
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/63/12/46/PDF/thA_se_avec_perspectives_3.pdf