Contribution à l'étude des structures passives verre-silicium dans le domaine millimétrique

Nous proposons dans cette thèse de nouvelles structures à faibles pertes en vue de leur utilisation dans les bandes millimétriques. L'hypothèse forte sur laquelle es t construite notre étude est que la présence du silicium permet d'envisager une intégration plus facile des circuits. Pour c...

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Bibliographic Details
Main Author: Emond, Julien
Language:fra
Published: Université Paris-Est 2010
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00600678
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/60/06/78/PDF/TH2010PEST1022_complete.pdf