Développement de techniques nano-sondes pour la meusre du travail de sortie et application aux matériaux en microélectronique
La mesure fiable et spatialement résolue du travail de sortie de matériaux et nanostructures est l'un des problèmes les plus importants en caractérisation de surface avancée pour les applications technologiques. Parmi les méthodes de mesure du travail de sortie disponibles, la microscopie à son...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
2010
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00515370 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/51/53/70/PDF/K-KAJA_Thesis.PDF http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/51/53/70/ANNEX/Soutenance_KA_.ppt |