Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission

Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission

Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maît...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Béché, Armand
Language:	FRE
Published:	2009
Subjects:	[PHYS:PHYS] Physics/Physics Microscopie électronique en transmission (TEM) Déformations Contraintes Faisceau convergent (CBED) Nanodiffraction (NBED) Holographie en champ sombre Moirés
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00489867 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/98/67/PDF/These_Armand_Beche_-_Mesure_de_deformation_-_lien_pdf.pdf http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/98/67/ANNEX/These_Armand_Beche_-_Mesure_de_deformation_-_imprimable.pdf

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