Mesure de déformation à l'échelle nanométrique par microscopie électronique en transmission
Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maît...
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | FRE |
| Published: |
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00489867 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/98/67/PDF/These_Armand_Beche_-_Mesure_de_deformation_-_lien_pdf.pdf http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/98/67/ANNEX/These_Armand_Beche_-_Mesure_de_deformation_-_imprimable.pdf |