Modélisation de défauts paramétriques en vue de tests statiques et dynamiques
Avec l'évolution de la densité d'intégration et la forte complexité des procédés de fabrication des circuits intégrés actuels, l'occurrence de défaillances non modélisables par de simples collages devient importante voire prépondérante. Cette thèse s'intéresse particulièrement à...
Main Author: | Houarche, Nicolas |
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Language: | fra |
Published: |
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
2009
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00481534 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/15/34/PDF/Manuscrit_final_Houarche.pdf |
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