Modélisation de défauts paramétriques en vue de tests statiques et dynamiques

Avec l'évolution de la densité d'intégration et la forte complexité des procédés de fabrication des circuits intégrés actuels, l'occurrence de défaillances non modélisables par de simples collages devient importante voire prépondérante. Cette thèse s'intéresse particulièrement à...

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Bibliographic Details
Main Author: Houarche, Nicolas
Language:fra
Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2009
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00481534
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/48/15/34/PDF/Manuscrit_final_Houarche.pdf