Application de la diffraction cohérente des rayons X à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques
Le travail présenté dans ce manuscrit a pour fil conducteur l'utilisation de la diffraction cohérente des rayons X pour mettre en lumière différents phénomènes physiques. La détection de défauts topologiques, auxquels les faisceaux cohérents sont très sensibles, permet de tirer des conclusions...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Paris Sud - Paris XI
2009
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00463496 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/46/34/96/PDF/Memoire_v6.pdf |