Méthodes et outils pour l'évaluation de la sensibilité de circuits intégrés avancés face aux radiations naturelles

Méthodes et outils pour l'évaluation de la sensibilité de circuits intégrés avancés face aux radiations naturelles

La réduction des dimensions et paramètres électriques des transistors, fruit des progrès dans les technologies de fabrication de circuits intégrés, rend les composants présents et futurs de plus en plus sensibles aux perturbations appelées évènements singuliers S.E.E. (Single Event Effects). Ces évé...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Peronnard, Paul
Language:	FRE
Published:	2009
Subjects:	[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ENVIRONNEMENT SPATIAL EFFETS SINGULIERS UPSET SEU ENVIRONNEMENT ATMOSPHERIQUE INJECTION DE FAUTES PROCESSEURS ACCELERATEURS DE PARTICULES SRAM
Online Access:	http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00441658 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/17/34/PDF/these.pdf

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