Méthodes et outils pour l'évaluation de la sensibilité de circuits intégrés avancés face aux radiations naturelles
La réduction des dimensions et paramètres électriques des transistors, fruit des progrès dans les technologies de fabrication de circuits intégrés, rend les composants présents et futurs de plus en plus sensibles aux perturbations appelées évènements singuliers S.E.E. (Single Event Effects). Ces évé...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00441658 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/17/34/PDF/these.pdf |