La mesure d'amplitudes complexes par interférométrie à décalage multi-latéral
De nombreux analyseurs de surface d'onde ont été proposés. Parmi eux, l'interféromètre à décalage latéral est un outil à présent bien connu pour mesurer les aberrations classiques. L'objet de l'étude est de mesurer des surfaces d'ondes plus complexes : le premier degré de co...
| Main Author: | |
|---|---|
| Language: | FRE |
| Published: |
Université Paris Sud - Paris XI
2009
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00441279 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/12/79/PDF/version_def.pdf |