"Analogue Network of Converters": a DfT Technique to Test a Complete Set of ADCs and DACs Embedded in a Complex SiP or SoC

• Main Author: Kerzerho, Vincent
• Language: fra
• Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2008
• Subjects: [SPI] Engineering Sciences; [SPI] Sciences de l'ingénieur; Test; analog to digital converter (ADC); digital to analog converter (DAC); system-inpackage (SiP); analog network of converters (ANC); dynamic parameters; total harmonic distortion (THD); spurious free dynamic range ( SFDR)
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00364546; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/36/45/46/PDF/2009_02_09_these_VK_version_imprimable_.pdf

Une nouvelle méthode de test pour les convertisseurs ADC et DAC embarqués dans un système complexe a été développée en prenant en compte les nouvelles contraintes affectant le test. Ces contraintes, dues aux tendances de design de systèmes, sont un nombre réduit de point d'accès aux entrées/sorties des blocs analogiques du système et une augmentation galopante du nombre et des performances des convertisseurs intégrés. La méthode proposée consiste à connecter les convertisseurs DAC et ADC dans le domaine analogique pour n'avoir besoin que d'instruments de test numériques pour générer et capturer les signaux de test. Un algorithme de traitement du signal a été développé pour discriminer les erreurs des DACs et ADCs. Cet algorithme a été validé par simulation et par expérimentation sur des produits commercialisés par NXP. La dernière partie de la thèse a consisté à développer de nouvelles applications pour l'algorithme.