"Analogue Network of Converters": a DfT Technique to Test a Complete Set of ADCs and DACs Embedded in a Complex SiP or SoC

Une nouvelle méthode de test pour les convertisseurs ADC et DAC embarqués dans un système complexe a été développée en prenant en compte les nouvelles contraintes affectant le test. Ces contraintes, dues aux tendances de design de systèmes, sont un nombre réduit de point d'accès aux entrées/sor...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kerzerho, Vincent
Language:fra
Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2008
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00364546
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/36/45/46/PDF/2009_02_09_these_VK_version_imprimable_.pdf