"Analogue Network of Converters": a DfT Technique to Test a Complete Set of ADCs and DACs Embedded in a Complex SiP or SoC
Une nouvelle méthode de test pour les convertisseurs ADC et DAC embarqués dans un système complexe a été développée en prenant en compte les nouvelles contraintes affectant le test. Ces contraintes, dues aux tendances de design de systèmes, sont un nombre réduit de point d'accès aux entrées/sor...
Main Author: | |
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Language: | fra |
Published: |
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
2008
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Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00364546 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/36/45/46/PDF/2009_02_09_these_VK_version_imprimable_.pdf |