TEST INTEGRE DE CIRCUITS CRYPTOGRAPHIQUES

Parce que les architectures de test classiques visent principalement à accroître la contrôlabilité et l'observabilité des données manipulées par le système matériel, elles sont identifiées comme sources potentielles de manipulations frauduleuses lorsqu'elles sont mises en oeuvre dans des s...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Doulcier, Marion
Language:fra
Published: Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc 2008
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00361007
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/36/10/07/PDF/THESE_DOULCIER.pdf