Contribution à l'étude des méthodes de modélisation de l'immunité électromagnétique des circuits intégrés
De nos jours, le développement rapide des systèmes électroniques complexes multiplie les sources de perturbations électromagnétiques, auxquelles un nombre de circuits actuels deviennent de plus en plus susceptibles. Il devient donc indispensable de prédire les comportements des circuits intégrés vis...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
INSA de Rennes
2008
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00355945 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/35/59/45/PDF/These_alaeldine_emc.pdf |