Test aux ions lourds de VLSI programmables
L'environnement radiatif spatial provoque des anomalies dans les systèmes informatiques embarques. Il est donc primordial de définir des stratégies de qualification permettant le choix du circuit le moins vulnérable. Le phénomène dit d'Upset est l'un des effets du rayonnement le plus...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1989
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00334460 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/33/44/60/PDF/Provost-Grellier.Antoine_1989_these.pdf |