Méthodes et outils de test pour microprocesseurs et circuits périphériques
Après avoir situé le problème du test des circuits intégrés, une méthode de test phasée sur une description fonctionnelle du circuit est décrite. le système de test développé en collaboration avec ESD est présente ainsi qu'un outil de description de signaux.
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1983
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00307439 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/30/74/39/PDF/Sadier.Sylvain_1983_these.pdf |