Développement de composants optiques asphériques avec traitement de multicouches réflectives pour l'analyse X
L'analyse X par microsonde électronique (EPMA : Electron Probe MicroAnalysis) d'éléments légers, ayant des raies d'émission dans la gamme spectrale comprise entre 180 et 550 eV, requiert des cristaux analyseurs performants basés sur l'utilisation de revêtements interférentiels mu...
| Main Author: | |
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| Language: | fra |
| Published: |
Université Paris Sud - Paris XI
2007
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00265515 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/26/55/15/PDF/these-AH-VF.pdf |