Génération Automatique de circuits durcis aux rayonnements au niveau transistor
Les technologies submicroniques ont inséré des nouveaux défis dans le projet de circuits intégrés à cause de la réduction des géométries, la réduction de la tension d'alimentation, l'augmentation de la fréquence et la densité élevée de la logique. Cette thèse est divisée dans deux contribu...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
2007
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00198470 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/19/84/70/PDF/gac_0273.pdf |