Plateforme CAO pour le test de circuits mixtes
La complexité croissante des puces microélectroniques pose de très importants problèmes de test, avec des coûts en forte augmentation dus principalement à l'utilisation d'équipements de test très sophistiqués et à des temps de test trop long. Ceci est particulièrement vrai dans le cas des...
Main Author: | Bounceur, A. |
---|---|
Language: | FRE |
Published: |
2007
|
Subjects: | |
Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00163839 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/16/38/39/PDF/pct_255.pdf |
Similar Items
-
Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de modélisation statistique
by: Akkouche, N.
Published: (2011) -
Modélisation de fautes et diagnostic pour les circuits mixtes/RF nanométriques
by: Huang, Ke
Published: (2011) -
Approche à base de logique floue pour le test et le diagnostic des circuits analogiques
by: Mohamed, F.
Published: (1997) -
Conception d'une architecture de BIST analogique et mixte programmable en technologie CMOS très submicronique
by: Prenat, G.
Published: (2005) -
Technique d'auto test pour des convertisseurs de signal Sigma-Delta
by: Rolindez, L.
Published: (2007)