Plateforme CAO pour le test de circuits mixtes

La complexité croissante des puces microélectroniques pose de très importants problèmes de test, avec des coûts en forte augmentation dus principalement à l'utilisation d'équipements de test très sophistiqués et à des temps de test trop long. Ceci est particulièrement vrai dans le cas des...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bounceur, A.
Language:FRE
Published: 2007
Subjects:
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00163839
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/16/38/39/PDF/pct_255.pdf

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