Plateforme CAO pour le test de circuits mixtes
La complexité croissante des puces microélectroniques pose de très importants problèmes de test, avec des coûts en forte augmentation dus principalement à l'utilisation d'équipements de test très sophistiqués et à des temps de test trop long. Ceci est particulièrement vrai dans le cas des...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
2007
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00163839 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/16/38/39/PDF/pct_255.pdf |