Conception et test de systèmes CMOS fiables et tolérants aux pannes
Cette thèse propose des nouvelles méthodes de conception et de test des systèmes CMOS intégrés, permettant d'augmenter la fiabilité et la tolérance aux pannes en technologies submicroniques profonds, et répondre à l'augmentation des défauts non-décelables au test de fabrication et à la sen...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1999
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00163765 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/16/37/65/PDF/cts_110.pdf |