Etude du comportement de la charge d'espace dans les structures MOS. Vers une analyse du champ électrique interne par la méthode de l'onde thermique.
L'isolant électrique est un élément essentiel des composants électroniques. Or, à cause des défauts présents dans l'isolant, des dysfonctionnements apparaissent dans les équipements électroniques provoquant des problèmes de fiabilité. Il est donc essentiel de quantifier et d'identifie...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
Université Montpellier II - Sciences et Techniques du Languedoc
2006
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00140084 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/14/00/84/PDF/These_Fruchier_Olivier.pdf |