INJECTION DE FAUTES SIMULANT LES EFFETS DE BASCULEMENT DE BITS INDUITS PAR RADIATION
Obtenir une estimation du taux d'erreurs induit par les phénomènes de basculement de bit (soft error<br />rate, SER) des équipements électroniques est d'un intérêt grandissant. Les standards publiés traitent principalement de la qualification des circuits de type mémoire. Il n'y...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
2005
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00011494 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/70/58/PDF/ris_218.pdf |