Analyse et modélisation des phénomènes de chargement de diélectriques dans les MEMS RF : application à la fiabilité prédictive de micro-commutateurs électromécaniques micro-ondes

Analyse et modélisation des phénomènes de chargement de diélectriques dans les MEMS RF : application à la fiabilité prédictive de micro-commutateurs électromécaniques micro-ondes

Ces dernières années ont vu l'émergence de nouveaux composants micro-ondes, les micro-commutateurs MEMS RF, possédant des performances très attrayantes pour de nombreux domaines d'application : spatial, automobile, téléphonie mobile& Cependant, une problématique majeure retarde actuell...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Melle, Samuel
Language:FRE
Published: Université Paul Sabatier - Toulouse III 2005
Subjects:
[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
MEMS RF
Micro-commutateurs
Banc de tests
Hyperfréquences
Fiabilité
Mode et mécanisme de défaillance
Chargement du diélectrique
Mécanisme de conduction Frenkel-Poole
Modélisation
Facteur de mérite
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00011359
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/45/09/PDF/These_Samuel_Melle.pdf

Internet

http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00011359
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/45/09/PDF/These_Samuel_Melle.pdf

Similar Items