Test et LSI
La motivation de ce travail est la détection des pannes matérielles pouvant se produire à l'intérieur d'une unité centrale (UC) intégrée (microprocesseur). Certaines des différentes étapes de la méthodologie dépassant ce cadre (pouvant être utilisées avec profit pour d'autres problème...
| Main Author: | |
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| Language: | FRE |
| Published: |
1981
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00010674 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/05/11/89/PDF/tel-00010674.pdf |